高精度，低延迟，无损伤

基于光电导天线的典型光纤耦合太赫兹时域光谱采样技术及典型光纤耦合太赫兹时域光谱系统，该系统测量精度高，厚度测量精度可达μm量级，可对多层涂层进行同时测量，一次得到所有涂层厚度，非接触式测量，不会损伤涂层，干、湿状态都可测量，紧凑设计，可实验室、工业生产线、外场便携式使用，适用于复合材料、陶瓷、塑料橡胶、隔热材料、建材材料等。可应用于涂层测厚、无菌包装测量、药丸膜衣测量、轮胎测量腐蚀检测、燃料箱检测、复材涂层和缺陷分析多层管材检测、热障涂层检测、天线罩检测、物质成分鉴别、生物医学研究等。